Publicação: Magneto-optical studies of the correlation between interface microroughness parameters and the photoluminescence line shape in GaAs/Ga0.7Al0.3As quantum wells
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Data
1999-12-01
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Tipo
Artigo
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Acesso aberto
Resumo
In this work we analyze the relation between the interface microroughness and the full width at half maximum (FWHM) of the photoluminescence (PL) spectra for a GaAs/Ga0.7Al0.3As multiple quantum well (QW) system. We show that, in spite of the complex correlation between the microscopic interface-defects parameters and the QW optical properties, the Singh and Bajaj model [Appl. Phys. Lett. 44, 805 (1984)] provides a good quantitative description of the excitonic PL-FWHM. ©1999 The American Physical Society.
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Idioma
Inglês
Como citar
Physical Review B - Condensed Matter and Materials Physics, v. 60, n. 3, p. 1519-1522, 1999.
