Publicação:
Improving the accuracy of the optimum-path forest supervised classifier for large datasets

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Data

2010-12-15

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Trabalho apresentado em evento

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Resumo

In this work, a new approach for supervised pattern recognition is presented which improves the learning algorithm of the Optimum-Path Forest classifier (OPF), centered on detection and elimination of outliers in the training set. Identification of outliers is based on a penalty computed for each sample in the training set from the corresponding number of imputable false positive and false negative classification of samples. This approach enhances the accuracy of OPF while still gaining in classification time, at the expense of a slight increase in training time. © 2010 Springer-Verlag.

Descrição

Idioma

Inglês

Como citar

Lecture Notes in Computer Science (including subseries Lecture Notes in Artificial Intelligence and Lecture Notes in Bioinformatics), v. 6419 LNCS, p. 467-475.

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