Publicação:
Study of the influence of the rare earth elements (Ce3+ and Ce4+) concentration on the siloxanes coating applied on the copper surface

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Data

2012-12-01

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Trabalho apresentado em evento

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Resumo

This work studied the influence of the rare earth (Ce3+ and Ce4+) elements concentration in polysiloxane flints deposited on copper by dip-coating process, and evaluated their resistance in a 3.5 wt.% NaCl medium. Classical electrochemistry techniques were used as open circuit potential, polarization curves and electrochemical impedance spectroscopy. The results revealed that by adding low concentration of Ce4+ ions, the coating prevents the electrolyte uptake any longer retarding the substrate degradation consequently. ©The Electrochemical Society.

Descrição

Palavras-chave

Copper surface, Dip-coating process, Low concentrations, Open circuit potential, Polarization curves, Substrate degradation, Copper, Degradation, Electrochemical impedance spectroscopy, Electrochemistry, Silicon compounds, Silicones, Coatings

Idioma

Inglês

Como citar

ECS Transactions, v. 43, n. 1, p. 3-7, 2012.

URI

http://hdl.handle.net/11449/73842

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