Estudo da técnica experimental de espectroscopia Raman de raios X
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Data
Autores
Orientador
Kaneko, Ulisses Ferreira 
Coorientador
Pós-graduação
Curso de graduação
Rio Claro - IGCE - Física
Título da Revista
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Título de Volume
Editor
Universidade Estadual Paulista (Unesp)
Tipo
Trabalho de conclusão de curso
Direito de acesso
Acesso aberto
Resumo
Resumo (português)
O estudo de métodos de análise experimental é fundamental para o desenvolvimento de pesquisas em novos materiais e fenômenos físicos em geral. As técnicas de espectroscopia compreendem formas de análise de extrema importância no meio acadêmico, mas que ainda possuem limitações consideráveis. Neste contexto, a Espectroscopia por Espalhamento Raman
de Raios X (XRS) surge como uma alternativa promissora que tem sido aperfeiçoada por muitos anos. O XRS se consolidou como uma ferramenta viável e, em muitos casos, mais eficiente para a obtenção de informações químicas, físicas e estruturais de substâncias inicialmente desconhecidas. Sua capacidade de ser utilizada em condições extremas e com amostras in-situ a torna particularmente valiosa. O objetivo central deste trabalho é então realizar uma revisão bibliográfica buscando entender em que consiste o XRS, suas limitações, especificidades e possíveis aplicações, buscando consolidar o estado da arte da técnica e discutir suas perspectivas futuras. A montagem e o aparato experimental são descritos com base em trabalhos recentes e em estruturas utilizadas em diversas linhas de luz, estabelecendo um comparativo entre elas e a teoria estabelecida. Uma projeção com dimensões obtidas a partir de um cristal analisador real de raio R = 500 mm é apresentada com fins de exemplificação. Em seguida, são apresentados casos de estudo nos quais o XRS foi empregado, demonstrando resultados surpreendentes e como a técnica pode auxiliar na superação de obstáculos em pesquisa de fronteira. Os casos descritos são discutidos de forma a salientar os benefícios de sua utilização, destacando também as dificuldades inerentes. É mencionada a possibilidade de uma montagem instrumental com equipamentos de baixo custo, ressaltando, contudo, a necessidade da realização de uma análise real para o aprimoramento dos resultados teóricos e projetados. Conclui-se reiterando a importância do XRS e como as observações apresentadas corroboram com seu recente ganho de visibilidade. A técnica é uma ferramenta com muito a oferecer e que demonstra grande potencial para o futuro da pesquisa.
Resumo (inglês)
The study of experimental analysis methods is fundamental for the development of research on new materials and physical phenomena in general. Spectroscopic techniques comprise forms of analysis of extreme importance in the academic environment, however, there are still considerable limitations. In this context, X-ray Raman Scattering Spectroscopy (XRS) emerges as a promising alternative that has been refined for many years. XRS has established itself as a viable and, in many cases, more efficient tool for obtaining chemical, physical, and structural information from initially unknown substances. Its ability to be used under extreme conditions and with in-situ samples makes it particularly valuable. The central objective of this work is, therefore, to conduct a literature review seeking to understand what XRS consists of, its limitations, specificities, and possible applications, with the aim of consolidating the state of the art of the technique and discussing its future perspectives. The experimental setup and apparatus are described based on recent works and on structures used in various beamlines, establishing a comparison between them and with established theory. A projection with dimensions obtained from a real analyzer crystal with a radius R = 500 mm is presented for the purpose of exemplification. Following this, case studies are presented in which XRS was employed, demonstrating surprising results and how the technique can help overcome obstacles in frontier research. The cases described are discussed to highlight the benefits of its use, also emphasizing the inherent difficulties. The possibility of an instrumental setup with low-cost equipment is mentioned, stressing, however, the need for a real analysis to refine the theoretical and projected results. The conclusion reiterates the importance of XRS and how the observations presented corroborate its recent gain in visibility. The technique is a tool with much to offer and demonstrates great potential for the future of research.
Descrição
Palavras-chave
Análise espectral, Raios X Espalhamento a baixo ângulo, Raman, Efeito
Idioma
Português
