Publicação: Level crossing rate of Nakagami-m fading signal: Field trials and validation
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Editor
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Tipo
Artigo
Direito de acesso
Acesso restrito
Resumo
Field trial measurements are used to validate the level crossing rate formula derived in an exact manner recently for the Nakagami-m signal. The formula reveals an excellent fit to measurements in situations other than those for which the Rice model is more appropriate.
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Palavras-chave
Idioma
Inglês
Como citar
Electronics Letters. Hertford: IEE-inst Elec Eng, v. 36, n. 4, p. 355-357, 2000.
