Search for techniparticles in e plus jets events at D0

Abazov, V. M.; Abbott, B.; Abolins, M.; Acharya, B. S.; Adams, M.; Adams, T.; Aguilo, E.; Ahn, S. H.; Ahsan, M.; Alexeev, G. D.; Alkhazov, G.; Alton, A.; Alverson, G.; Alves, G. A.; Anastasoaie, M.; Ancu, L. S.; Andeen, T.; Anderson, S.; Andrieu, B.; Anzelc, M. S.; Arnoud, Y.; Arov, M.; Askew, A.; Asman, B.; Assis Jesus, A. C. S.; Atramentov, O.; Autermann, C.; Avila, C.; Ay, C.; Badaud, F.; Baden, A.; Bagby, L.; Baldin, B.; Bandurin, D. V.; Banerjee, P.; Banerjee, S.; Barberis, E.; Bargassa, P.; Baringer, P.; Barnes, C.; Barreto, J.; Bartlett, J. F.; Bassler, U.; Bauer, D.; Beale, S.; Bean, A.; Begalli, M.; Begel, M.; Belanger-Champagne, C.; Bellantoni, L.; Bellavance, A.; Benitez, J. A.; Beri, S. B.; Bernardi, G.; Bernhard, R.; Berntzon, L.; Bertram, I.; Besancon, M.; Beuselinck, R.; Bezzubov, V. A.; Bhat, P. C.; Bhatnagar, V.; Binder, M.; Biscarat, C.; Blackler, I.; Blazey, G.; Blekman, F.; Blessing, S.; Bloch, D.; Bloom, K.; Boehnlein, A.; Boline, D.; Bolton, T. A.; Borissov, G.; Bos, K.; Bose, T.; Brandt, A.; Brock, R.; Brooijmans, G.; Bross, A.; Brown, D.; Buchanan, N. J.; Buchholz, D.; Buehler, M.; Buescher, V.; Burdin, S.; Burke, S.; Burnett, T. H.; Busato, E.; Buszello, C. P.; Butler, J. M.; Calfayan, P.; Calvet, S.; Cammin, J.; Caron, S.; Carvalho, W.; Casey, B. C. K.; Cason, N. M.; Castilla-Valdez, H.; Chakrabarti, S.; Chakraborty, D.; Chan, K. M.; Chandra, A.; Charles, F.; Cheu, E.; Chevallier, F.; Cho, D. K.; Choi, S.; Choudhary, B.; Christofek, L.; Claes, D.; Clement, B.; Clement, C.; Coadou, Y.; Cooke, M.; Cooper, W. E.; Corcoran, M.; Couderc, F.; Cousinou, M.-C.; Cox, B.; Crepe-Renaudin, S.; Cutts, D.; Cwiok, M.; da Motta, H.; Das, A.; Das, M.; Davies, B.; Davies, G.; De, K.; de Jong, P.; de Jong, S. J.; De la Cruz-Burelo, E.; De Oliveira Martins, C.; Degenhardt, J. D.; Deliot, F.; Demarteau, M.; Demina, R.; Denisov, D.; Denisov, S. P.; Desai, S.; Diehl, H. T.; Diesburg, M.; Doidge, M.; Dominguez, A.; Dong, H.; Dudko, L. V.; Duflot, L.; Dugad, S. R.; Duggan, D.; Duperrin, A.; Dyer, J.; Dyshkant, A.; Eads, M.; Edmunds, D.; Ellison, J.; Elvira, V. D.; Enari, Y.; Eno, S.; Ermolov, P.; Evans, H.; Evdokimov, A.; Evdokimov, V. N.; Feligioni, L.; Ferapontov, A. V.; Ferbel, T.; Fiedler, F.; Filthaut, F.; Fisher, W.; Fisk, H. E.; Ford, M.; Fortner, M.; Fox, H.; Fu, S.; Fuess, S.; Gadfort, T.; Galea, C. F.; Gallas, E.; Galyaev, E.; Garcia, C.; Garcia-Bellido, A.; Gavrilov, V.; Gay, A.; Gay, P.; Geist, W.; Gele, D.; Gelhaus, R.; Gerber, C. E.; Gershtein, Y.; Gillberg, D.; Ginther, G.; Gollub, N.; Gomez, B.; Goussiou, A.; Grannis, P. D.; Greenlee, H.; Greenwood, Z. D.; Gregores, E. M.; Grenier, G.; Gris, Ph.; Grivaz, J.-F.; Grohsjean, A.; Gruenendahl, S.; Gruenewald, M. W.; Guo, J.; Gutierrez, G.; Gutierrez, P.; Haas, A.; Hadley, N. J.; Haefner, P.; Hagopian, S.; Haley, J.; Hall, I.; Hall, R. E.; Han, L.; Hanagaki, K.; Hansson, P.; Harder, K.; Harel, A.; Harrington, R.; Hauptman, J. M.; Hauser, R.; Hays, J.; Hebbeker, T.; Hedin, D.; Hegeman, J. G.; Heinmiller, J. M.; Heinson, A. P.; Heintz, U.; Hensel, C.; Herner, K.; Hesketh, G.; Hildreth, M. D.; Hirosky, R.; Hobbs, J. D.; Hoeneisen, B.; Hoeth, H.; Hohlfeld, M.; Hong, S. J.; Hooper, R.; Houben, P.; Hu, Y.; Hubacek, Z.; Hynek, V.; Iashvili, I.; Illingworth, R.; Ito, A. S.; Jabeen, S.; Jaffre, M.; Jain, S.; Jakobs, K.; Jarvis, C.; Jenkins, A.; Jesik, R.; Johns, K.; Johnson, C.; Johnson, M.; Jonckheere, A.; Jonsson, P.; Juste, A.; Kaefer, D.; Kahn, S.; Kajfasz, E.; Kalinin, A. M.; Kalk, J. M.; Kalk, J. R.; Kappler, S.; Karmanov, D.; Kasper, J.; Kasper, P.; Katsanos, I.; Kau, D.; Kaur, R.; Kehoe, R.; Kermiche, S.; Khalatyan, N.; Khanov, A.; Kharchilava, A.; Kharzheev, Y. M.; Khatidze, D.; Kim, H.; Kim, T. J.; Kirby, M. H.; Klima, B.; Kohli, J. M.; Konrath, J.-P.; Kopal, M.; Korablev, V. M.; Kotcher, J.; Kothari, B.; Koubarovsky, A.; Kozelov, A. V.; Krop, D.; Kryemadhi, A.; Kuhl, T.; Kumar, A.; Kunori, S.; Kupco, A.; Kurca, T.; Kvita, J.; Lam, D.; Lammers, S.; Landsberg, G.; Lazoflores, J.; Le Bihan, A.-C.; Lebrun, P.; Lee, W. M.; Leflat, A.; Lehner, F.; Lesne, V.; Leveque, J.; Lewis, P.; Li, J.; Li, L.; Li, Q. Z.; Lietti, S. M.; Lima, J. G. R.; Lincoln, D.; Linnemann, J.; Lipaev, V. V.; Lipton, R.; Liu, Z.; Lobo, L.; Lobodenko, A.; Lokajicek, M.; Lounis, A.; Love, P.; Lubatti, H. J.; Lynker, M.; Lyon, A. L.; Maciel, A. K. A.; Madaras, R. J.; Maettig, P.; Magass, C.; Magerkurth, A.; Makovec, N.; Mal, P. K.; Malbouisson, H. B.; Malik, S.; Malyshev, V. L.; Mao, H. S.; Maravin, Y.; McCarthy, R.; Melnitchouk, A.; Mendes, A.; Mendoza, L.; Mercadante, P. G.; Merkin, M.; Merritt, K. W.; Meyer, A.; Meyer, J.; Michaut, M.; Miettinen, H.; Millet, T.; Mitrevski, J.; Molina, J.; Mommsen, R. K.; Mondal, N. K.; Monk, J.; Moore, R. W.; Moulik, T.; Muanza, G. S.; Mulders, M.; Mulhearn, M.; Mundal, O.; Mundim, L.; Nagy, E.; Naimuddin, M.; Narain, M.; Naumann, N. A.; Neal, H. A.; Negret, J. P.; Neustroev, P.; Noeding, C.; Nomerotski, A.; Novaes, Sérgio Ferraz [UNESP]; Nunnemann, T.; O'Dell, V.; O'Neil, D. C.; Obrant, G.; Ochando, C.; Oguri, V.; Oliveira, N.; Onoprienko, D.; Oshima, N.; Osta, J.; Otec, R.; Otero y Garzon, G. J.; Owen, M.; Padley, P.; Pangilinan, M.; Parashar, N.; Park, S.-J.; Park, S. K.; Parsons, J.; Partridge, R.; Parua, N.; Patwa, A.; Pawloski, G.; Perea, P. M.; Peters, K.; Peters, Y.; Petroff, P.; Petteni, M.; Piegaia, R.; Piper, J.; Pleier, M.-A.; Podesta-Lerma, P. L. M.; Podstavkov, V. M.; Pogorelov, Y.; Pol, M.-E.; Pompos, A.; Pope, B. G.; Popov, A. V.; Potter, C.; Prado da Silva, W. L.; Prosper, H. B.; Protopopescu, S.; Qian, J.; Quadt, A.; Quinn, B.; Rangel, S.; Rani, K. J.; Ranjan, K.; Ratoff, P. N.; Renkel, P.; Reucroft, S.; Rijssenbeek, M.; Ripp-Baudot, I.; Rizatdinova, F.; Robinson, S.; Rodrigues, R. F.; Royon, C.; Rubinov, P.; Ruchti, R.; Sajot, G.; Sanchez-Hernandez, A.; Sanders, M. P.; Santoro, A.; Savage, G.; Sawyer, L.; Scanlon, T.; Schaile, D.; Schamberger, R. D.; Scheglov, Y.; Schellman, H.; Schieferdecker, P.; Schmitt, C.; Schwanenberger, C.; Schwartzman, A.; Schwienhorst, R.; Sekaric, J.; Sengupta, S.; Severini, H.; Shabalina, E.; Shamim, M.; Shary, V.; Shchukin, A. A.; Shivpuri, R. K.; Shpakov, D.; Siccardi, V.; Sidwell, A.; Simak, V.; Sirotenko, V.; Skubic, P.; Slattery, P.; Smith, R. P.; Snow, G. R.; Snow, J.; Snyder, S.; Soeldner-Rembold, S.; Song, X.; Sonnenschein, L.; Sopczak, A.; Sosebee, M.; Soustruznik, K.; Souza, M.; Spurlock, B.; Stark, J.; Steele, J.; Stolin, V.; Stone, A.; Stoyanova, D. A.; Strandberg, J.; Strandberg, S.; Strang, M. A.; Strauss, M.; Stroehmer, R.; Strom, D.; Strovink, M.; Stutte, L.; Sumowidagdo, S.; Svoisky, P.; Sznajder, A.; Talby, M.; Tamburello, P.; Taylor, W.; Telford, P.; Temple, J.; Tiller, B.; Titov, M.; Tokmenin, V. V.; Tomoto, M.; Toole, T.; Torchiani, I.; Trefzger, T.; Trincaz-Duvoid, S.; Tsybychev, D.; Tuchming, B.; Tully, C.; Tuts, P. M.; Unalan, R.; Uvarov, L.; Uvarov, S.; Uzunyan, S.; Vachon, B.; van den Berg, P. J.; van Eijk, B.; Van Kooten, R.; van Leeuwen, W. M.; Varelas, N.; Varnes, E. W.; Vartapetian, A.; Vasilyev, I. A.; Vaupel, M.; Verdier, P.; Vertogradov, L. S.; Verzocchi, M.; Villeneuve-Seguier, F.; Vint, P.; Vlimant, J.-R.; Von Toerne, E.; Voutilainen, M.; Vreeswijk, M.; Wahl, H. D.; Wang, L.; Wang, M. H. L. S.; Warchol, J.; Watts, G.; Wayne, M.; Weber, G.; Weber, M.; Weerts, H.; Wermes, N.; Wetstein, M.; White, A.; Wicke, D.; Wilson, G. W.; Wimpenny, S. J.; Wobisch, M.; Womersley, J.; Wood, D. R.; Wyatt, T. R.; Xie, Y.; Yacoob, S.; Yamada, R.; Yan, M.; Yasuda, T.; Yatsunenko, Y. A.; Yip, K.; Yoo, H. D.; Youn, S. W.; Yu, C.; Yu, J.; Yurkewicz, A.; Zatserklyaniy, A.; Zeitnitz, C.; Zhang, D.; Zhao, T.; Zhou, B.; Zhu, J.; Zielinski, M.; Zieminska, D.; Zieminski, A.; Zutshi, V.; Zverev, E. G.

Search for techniparticles in e plus jets events at D0

Arquivos

WOS000246910100014.pdf (511.01 KB)

Data

2007-06-01

Autores

Abazov, V. M.

Abbott, B.

Abolins, M.

Acharya, B. S.

Adams, M.

Adams, T.

Aguilo, E.

Ahn, S. H.

Ahsan, M.

Alexeev, G. D.

Editor

American Physical Soc

Resumo

We search for the technicolor process p(p) over bar ->rho(T)/omega(T)-> W pi(T) in events containing one electron and two jets, in data corresponding to an integrated luminosity of 390 pb(-1), recorded by the D0 experiment at the Fermilab Tevatron. Technicolor predicts that technipions pi(T) decay dominantly into b(b) over bar, b(c) over bar, or (b) over barc, depending on their charge. In these events b and c quarks are identified by their secondary decay vertices within jets. Two analysis methods based on topological variables are presented. Since no excess above the standard model prediction was found, the result is presented as an exclusion in the pi(T) vs rho(T) mass plane for a given set of model parameters.

Como citar

Physical Review Letters. College Pk: American Physical Soc, v. 98, n. 22, 7 p., 2007.

URI

http://hdl.handle.net/11449/23996

Coleções

Artigos - Instituto de Física Teórica (IFT)

Página do item completo

Search for techniparticles in e plus jets events at D0

Arquivos

Data

Autores

Título da Revista

ISSN da Revista

Título de Volume

Editor

Resumo

Descrição

Palavras-chave

Como citar

URI

Coleções