Measurement of the Bs0 lifetime using semileptonic decays

Nenhuma Miniatura disponível

Data

2006-12-18

Orientador

Coorientador

Pós-graduação

Curso de graduação

Título da Revista

ISSN da Revista

Título de Volume

Editor

Tipo

Artigo

Direito de acesso

Resumo

We report a measurement of the Bs0 lifetime in the semileptonic decay channel Bs0→Ds-μ+νX (and its charge conjugate), using approximately 0.4fb-1 of data collected with the D0 detector during 2002-2004. Using 5176 reconstructed Ds-μ+ signal events, we have measured the Bs0 lifetime to be τ(Bs0)=1.398±0.044(stat)-0.025+0.028(syst)ps. This is the most precise measurement of the Bs0 lifetime to date. © 2006 The American Physical Society.

Descrição

Palavras-chave

Idioma

Inglês

Como citar

Physical Review Letters, v. 97, n. 24, 2006.

Itens relacionados

Financiadores