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DC method for self-heating estimation applied to FinFET

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Data

2018-10-26

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Resumo

This paper reports an extension on the application of the DC method for the estimation of self-heating effects from planar to FinFET devices, verified through theoretical considerations and numerical simulations. In the worst case, a difference of 5.6% was observed on the estimation of the transistors channel temperature when compared to a traditional method.

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Idioma

Inglês

Como citar

33rd Symposium on Microelectronics Technology and Devices, SBMicro 2018.

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