Wettability and surface microstructure of polyamide 6 coated with SiOXCYHZ films
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Data
2015
Autores
Vendemiatti, Caique
Hosokawa, Ricardo Shindi
Rangel, R. C. C.
Bortoleto, J. R. R.
Cruz, N. C.
Rangel, Elidiane Cipriano [UNESP]
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Resumo
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Palavras-chave
Wettability, Polyamide 6, organosilicon films, PECVD, Morphology, Surface topography
Como citar
Surface & Coatings Technology, v. 275, n. 2015, p. 32-40, 2015.