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Dielectric investigations in Sr0.75Ba0.25Nb2O6 relaxor ferroelectric thin films

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dc.contributor.authorSantos, I. A.
dc.contributor.authorMendes, R. G.
dc.contributor.authorEiras, J. A.
dc.contributor.authorGuerra, J. de Los S.
dc.contributor.authorAraujo, E. B. [UNESP]
dc.contributor.institutionUniversidade Estadual de Maringá (UEM)
dc.contributor.institutionUniversidade Federal de São Carlos (UFSCar)
dc.contributor.institutionUniversidade Federal de Uberlândia (UFU)
dc.contributor.institutionUniversidade Estadual Paulista (Unesp)
dc.date.accessioned2014-05-20T13:29:48Z
dc.date.available2014-05-20T13:29:48Z
dc.date.issued2009-06-01
dc.description.abstractThe dielectric properties of Sr0.75Ba0.25Nb2O6 relaxor ferroelectric thin films were carefully analyzed. In contrast to bulk samples which present three distinct dielectric relaxation phenomena Sr0.75Ba0.25Nb2O6 thin films present only two of them. The suppression of the third anomaly can be mainly attributed to the narrow grain size distribution of nanograins and weak tensile strains imposed to the film from the substrate. The whole set of results point to the interpretation of a dielectric response characteristic of mesoscopic structure, which is composed of clusters and nanodomains.en
dc.description.affiliationUniversidade Estadual de Maringá (UEM), Dept Fis, Grp Desenvolvimento Disposit Multifuncionais, BR-87020900 Maringa, Parana, Brazil
dc.description.affiliationUniversidade Federal de São Carlos (UFSCar), Dept Fis, Grp Ceram Ferroeletr, BR-13565905 São Carlos, SP, Brazil
dc.description.affiliationUniversidade Federal de Uberlândia (UFU), Inst Fis, Grp Ferroeletr & Mat Multifuncionais, BR-38400902 Uberlandia, MG, Brazil
dc.description.affiliationUniv Estadual Paulista, Dept Quim & Fis, Grp Ferroeletr & Novos Mat, BR-15385000 Ilha Solteira, SP, Brazil
dc.description.affiliationUnespUniv Estadual Paulista, Dept Quim & Fis, Grp Ferroeletr & Novos Mat, BR-15385000 Ilha Solteira, SP, Brazil
dc.description.sponsorshipFundação de Amparo à Pesquisa do Estado de São Paulo (FAPESP)
dc.description.sponsorshipCoordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior (CAPES)
dc.description.sponsorshipConselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico (CNPq)
dc.description.sponsorshipIdCNPq: 554855/2006-2
dc.format.extent757-760
dc.identifierhttp://dx.doi.org/10.1007/s00339-008-5060-7
dc.identifier.citationApplied Physics A-materials Science & Processing. New York: Springer, v. 95, n. 3, p. 757-760, 2009.
dc.identifier.doi10.1007/s00339-008-5060-7
dc.identifier.issn0947-8396
dc.identifier.lattes6725982228402054
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11449/10091
dc.identifier.wosWOS:000264809500023
dc.language.isoeng
dc.publisherSpringer
dc.relation.ispartofApplied Physics A-materials Science & Processing
dc.relation.ispartofjcr1.604
dc.relation.ispartofsjr0,481
dc.rights.accessRightsAcesso restrito
dc.sourceWeb of Science
dc.titleDielectric investigations in Sr0.75Ba0.25Nb2O6 relaxor ferroelectric thin filmsen
dc.typeArtigo
dcterms.licensehttp://www.springer.com/open+access/authors+rights?SGWID=0-176704-12-683201-0
dcterms.rightsHolderSpringer
dspace.entity.typePublication
unesp.author.lattes6725982228402054
unesp.campusUniversidade Estadual Paulista (UNESP), Faculdade de Engenharia, Ilha Solteirapt
unesp.departmentFísica e Química - FEISpt

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