Publicação: Probing free-carrier recombination in silicon strip nano-waveguides
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Data
2018-01-01
Orientador
Coorientador
Pós-graduação
Curso de graduação
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Editor
Ieee
Tipo
Trabalho apresentado em evento
Direito de acesso
Resumo
We analyze recombination dynamics of photo-generated free-carriers in strip silicon nanowaveguides, revealing a highly nonlinear decay dynamics with a time-dependent lifetime ranging from similar to 800 ps at the beginning to similar to 300 ns at the end of the decay.
Descrição
Palavras-chave
Idioma
Inglês
Como citar
2018 Conference On Lasers And Electro-optics (cleo). New York: Ieee, 2 p., 2018.
