Probing free-carrier recombination in silicon strip nano-waveguides
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Resumo
We analyze recombination dynamics of photo-generated free-carriers in strip silicon nanowaveguides, revealing a highly nonlinear decay dynamics with a time-dependent lifetime ranging from ~800 ps at the beginning to ~300 ns at the end of the decay.
Descrição
Palavras-chave
Idioma
Inglês
Citação
Optics InfoBase Conference Papers, v. Part F93-CLEO_QELS 2018.



