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Estudos sobre defeitos em semicondutores

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dc.contributor.authorScalvi, Luis Vicente de Andrade [UNESP]
dc.contributor.institutionUniversidade Estadual Paulista (UNESP)
dc.date.accessioned2026-10-05T19:19:26Z
dc.date.issued2002
dc.format.extent140 f. :il.
dc.identifier.alma990004556850206341
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/11449/339877
dc.publisherUniversidade Estadual Paulista (UNESP)
dc.rights.accessRightsAcesso abertopt
dc.sourceAlma
dc.subjectFísicapt
dc.subjectSemicondutorespt
dc.subjectSemicondutores - Defeitos - Arseneto de gálio e alumíniopt
dc.subjectSemicondutores - Defeitos - Dióxido de estanhopt
dc.subjectSemicondutores - Transporte elétricopt
dc.titleEstudos sobre defeitos em semicondutorespt
dc.typeTese de livre-docênciapt
dspace.entity.typePublication
relation.isOrgUnitOfPublicationaef1f5df-a00f-45f4-b366-6926b097829b
relation.isOrgUnitOfPublication.latestForDiscoveryaef1f5df-a00f-45f4-b366-6926b097829b
unesp.campusUniversidade Estadual Paulista (UNESP), Faculdade de Ciências, Baurupt

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