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Publicação:
Filmes finos de Titanato de Chumbo e Lantânio - PLT: influência do pH

dc.contributor.authorRangel, J. H. G.
dc.contributor.authorPontes, Fenelon Martinho Lima [UNESP]
dc.contributor.authorLeite, E. R.
dc.contributor.authorVarela, José Arana [UNESP]
dc.contributor.institutionUniversidade Federal de São Carlos (UFSCar)
dc.contributor.institutionUniversidade Estadual Paulista (Unesp)
dc.date.accessioned2014-05-20T15:16:21Z
dc.date.available2014-05-20T15:16:21Z
dc.date.issued2000-12-01
dc.description.abstractFilmes finos de PbTiO3 dopados com 27% de lantânio, depositados em substratros MgO (100), foram preparados pelo método dos precursores poliméricos (Pechini). As resinas, das quais são obtidos os filmes, ao término do processo apresentam pH entre 2-3. Este fato promove o aparecimento de cristais de citrato de Pb (favorecido pelo meio ácido). Para evitar tal problema, o pH da resina foi mantido entre 7-8 pela adição de hidróxido de amônio. O surgimento de regiões mais ricas em chumbo pode ser visto por intermédio de Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV) e confirmada pela análise de EDS. A Microscopia de Força Atômica (MFA) também foi utilizada na observação da superfície dos filmes.pt
dc.description.abstractThin films of PbTiO3 doped with 27% of lanthanum, deposited in MgO (100) substrates, were prepared by the Pechini method. The thin films present pH between 2 and 3 at the end of the process, with the appearance of crystals of Pb citrate due to the acid medium. To avoid this problem, the pH of the resin was kept between 7 and 8 by addition of ammonium hydroxide. The appearance of lead rich areas can be seen by Scanning Electron Microscopy (SEM) and confirmed by EDX analysis. Atomic Force Microscopy (AFM) observation was also carried out on the film surface.en
dc.description.affiliationUniversidade Federal de S. Carlos Departamento de Química Laboratório Interdisciplinar de Eletroquímica e Cerâmica
dc.description.affiliationUniversidade Estadual Paulista Instituto de Química Laboratório Interdisciplinar de Eletroquímica e Cerâmica
dc.description.affiliationUnespUniversidade Estadual Paulista Instituto de Química Laboratório Interdisciplinar de Eletroquímica e Cerâmica
dc.description.sponsorshipFundação de Amparo à Pesquisa do Estado de São Paulo (FAPESP)
dc.description.sponsorshipConselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico (CNPq)
dc.format.extent181-185
dc.identifierhttp://dx.doi.org/10.1590/S0366-69132000000400003
dc.identifier.citationCerâmica. Associação Brasileira de Cerâmica, v. 46, n. 300, p. 181-185, 2000.
dc.identifier.doi10.1590/S0366-69132000000400003
dc.identifier.fileS0366-69132000000400003.pdf
dc.identifier.issn0366-6913
dc.identifier.lattes1159480346990821
dc.identifier.orcid0000-0001-6086-5303
dc.identifier.scieloS0366-69132000000400003
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11449/30002
dc.language.isopor
dc.publisherAssociação Brasileira de Cerâmica
dc.relation.ispartofCerâmica
dc.relation.ispartofsjr0,186
dc.rights.accessRightsAcesso aberto
dc.sourceSciELO
dc.subjectfilmes finospt
dc.subjecttitanato de chumbopt
dc.subjectthin filmsen
dc.subjectlead titanateen
dc.titleFilmes finos de Titanato de Chumbo e Lantânio - PLT: influência do pHpt
dc.title.alternativeThin films of Lead Lanthanum Titanate - PLT: the influence of pHen
dc.typeArtigo
dspace.entity.typePublication
unesp.author.lattes1159480346990821[2]
unesp.author.orcid0000-0001-6086-5303[2]
unesp.campusUniversidade Estadual Paulista (UNESP), Instituto de Química, Araraquarapt
unesp.campusUniversidade Estadual Paulista (UNESP), Faculdade de Ciências, Baurupt
unesp.departmentQuímica - FCpt
unesp.departmentFísico-Química - IQARpt

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