Search for excited electrons in pp̄ collisions at s=1.96TeV

Abazov, V. M.; Abbott, B.; Abolins, M.; Acharya, B. S.; Adams, M.; Adams, T.; Aguilo, E.; Ahn, S. H.; Ahsan, M.; Alexeev, G. D.; Alkhazov, G.; Alton, A.; Alverson, G.; Alves, G. A.; Anastasoaie, M.; Ancu, L. S.; Andeen, T.; Anderson, S.; Andrieu, B.; Anzelc, M. S.; Arnoud, Y.; Arov, M.; Arthaud, M.; Askew, A.; Åsman, B.; Assis Jesus, A. C.S.; Atramentov, O.; Autermann, C.; Avila, C.; Ay, C.; Badaud, F.; Baden, A.; Bagby, L.; Baldin, B.; Bandurin, D. V.; Banerjee, S.; Banerjee, P.; Barberis, E.; Barfuss, A. F.; Bargassa, P.; Baringer, P.; Barreto, J.; Bartlett, J. F.; Bassler, U.; Bauer, D.; Beale, S.; Bean, A.; Begalli, M.; Begel, M.; Belanger-Champagne, C.; Bellantoni, L.; Bellavance, A.; Benitez, J. A.; Beri, S. B.; Bernardi, G.; Bernhard, R.; Bertram, I.; Besançon, M.; Beuselinck, R.; Bezzubov, V. A.; Bhat, P. C.; Bhatnagar, V.; Biscarat, C.; Blazey, G.; Blekman, F.; Blessing, S.; Bloch, D.; Bloom, K.; Boehnlein, A.; Boline, D.; Bolton, T. A.; Borissov, G.; Bose, T.; Brandt, A.; Brock, R.; Brooijmans, G.; Bross, A.; Brown, D.; Buchanan, N. J.; Buchholz, D.; Buehler, M.; Buescher, V.; Bunichev, V.; Burdin, S.; Burke, S.; Burnett, T. H.; Buszello, C. P.; Butler, J. M.; Calfayan, P.; Calvet, S.; Cammin, J.; Carvalho, W.; Casey, B. C.K.; Cason, N. M.; Castilla-Valdez, H.; Chakrabarti, S.; Chakraborty, D.; Chan, K. M.; Chan, K.; Chandra, A.; Charles, F.; Cheu, E.; Chevallier, F.; Cho, D. K.; Choi, S.; Choudhary, B.; Christofek, L.; Christoudias, T.; Cihangir, S.; Claes, D.; Coadou, Y.; Cooke, M.; Cooper, W. E.; Corcoran, M.; Couderc, F.; Cousinou, M. C.; Crépé-Renaudin, S.; Cutts, D.; Ćwiok, M.; Da Motta, H.; Das, A.; Davies, G.; De, K.; De Jong, S. J.; De La Cruz-Burelo, E.; De Oliveira Martins, C.; Degenhardt, J. D.; Déliot, F.; Demarteau, M.; Demina, R.; Denisov, D.; Denisov, S. P.; Desai, S.; Diehl, H. T.; Diesburg, M.; Dominguez, A.; Dong, H.; Dudko, L. V.; Duflot, L.; Dugad, S. R.; Duggan, D.; Duperrin, A.; Dyer, J.; Dyshkant, A.; Eads, M.; Edmunds, D.; Ellison, J.; Elvira, V. D.; Enari, Y.; Eno, S.; Ermolov, P.; Evans, H.; Evdokimov, A.; Evdokimov, V. N.; Ferapontov, A. V.; Ferbel, T.; Fiedler, F.; Filthaut, F.; Fisher, W.; Fisk, H. E.; Ford, M.; Fortner, M.; Fox, H.; Fu, S.; Fuess, S.; Gadfort, T.; Galea, C. F.; Gallas, E.; Galyaev, E.; Garcia, C.; Garcia-Bellido, A.; Gavrilov, V.; Gay, P.; Geist, W.; Gelé, D.; Gerber, C. E.; Gershtein, Y.; Gillberg, D.; Ginther, G.; Gollub, N.; Gómez, B.; Goussiou, A.; Grannis, P. D.; Greenlee, H.; Greenwood, Z. D.; Gregores, E. M.; Grenier, G.; Gris, Ph.; Grivaz, J. F.; Grohsjean, A.; Grünendahl, S.; Grünewald, M. W.; Guo, J.; Guo, F.; Gutierrez, P.; Gutierrez, G.; Haas, A.; Hadley, N. J.; Haefner, P.; Hagopian, S.; Haley, J.; Hall, I.; Hall, R. E.; Han, L.; Hansson, P.; Harder, K.; Harel, A.; Harrington, R.; Hauptman, J. M.; Hauser, R.; Hays, J.; Hebbeker, T.; Hedin, D.; Hegeman, J. G.; Heinmiller, J. M.; Heinson, A. P.; Heintz, U.; Hensel, C.; Herner, K.; Hesketh, G.; Hildreth, M. D.; Hirosky, R.; Hobbs, J. D.; Hoeneisen, B.; Hoeth, H.; Hohlfeld, M.; Hong, S. J.; Hossain, S.; Houben, P.; Hu, Y.; Hubacek, Z.; Hynek, V.; Iashvili, I.; Illingworth, R.; Ito, A. S.; Jabeen, S.; Jaffré, M.; Jain, S.; Jakobs, K.; Jarvis, C.; Jesik, R.; Johns, K.; Johnson, C.; Johnson, M.; Jonckheere, A.; Jonsson, P.; Juste, A.; Kajfasz, E.; Kalinin, A. M.; Kalk, J. R.; Kalk, J. M.; Kappler, S.; Karmanov, D.; Kasper, P. A.; Katsanos, I.; Kau, D.; Kaur, R.; Kaushik, V.; Kehoe, R.; Kermiche, S.; Khalatyan, N.; Khanov, A.; Kharchilava, A.; Kharzheev, Y. M.; Khatidze, D.; Kim, T. J.; Kirby, M. H.; Kirsch, M.; Klima, B.; Kohli, J. M.; Konrath, J. P.; Korablev, V. M.; Kozelov, A. V.; Krop, D.; Kuhl, T.; Kumar, A.; Kunori, S.; Kupco, A.; Kurča, T.; Kvita, J.; Lacroix, F.; Lam, D.; Lammers, S.; Landsberg, G.; Lebrun, P.; Lee, W. M.; Leflat, A.; Lehner, F.; Lellouch, J.; Leveque, J.; Li, J.; Li, Q. Z.; Li, L.; Lietti, S. M. [UNESP]; Lima, J. G.R.; Lincoln, D.; Linnemann, J.; Lipaev, V. V.; Lipton, R.; Liu, Y.; Liu, Z.; Lobodenko, A.; Lokajicek, M.; Love, P.; Lubatti, H. J.; Luna, R.; Lyon, A. L.; MacIel, A. K.A.; MacKin, D.; Madaras, R. J.; Mättig, P.; Magass, C.; Magerkurth, A.; Mal, P. K.; Malbouisson, H. B.; Malik, S.; Malyshev, V. L.; Mao, H. S.; Maravin, Y.; Martin, B.; McCarthy, R.; Melnitchouk, A.; Mendoza, L.; Mercadante, P. G. [UNESP]; Merkin, M.; Merritt, K. W.; Meyer, J.; Meyer, A.; Millet, T.; Mitrevski, J.; Molina, J.; Mommsen, R. K.; Mondal, N. K.; Moore, R. W.; Moulik, T.; Muanza, G. S.; Mulders, M.; Mulhearn, M.; Mundal, O.; Mundim, L.; Nagy, E.; Naimuddin, M.; Narain, M.; Naumann, N. A.; Neal, H. A.; Negret, J. P.; Neustroev, P.; Nilsen, H.; Nogima, H.; Novaes, S. F. [UNESP]; Nunnemann, T.; O'Dell, V.; O'Neil, D. C.; Obrant, G.; Ochando, C.; Onoprienko, D.; Oshima, N.; Osta, J.; Otec, R.; Otero Y Garzón, G. J.; Owen, M.; Padley, P.; Pangilinan, M.; Parashar, N.; Park, S. J.; Park, S. K.; Parsons, J.; Partridge, R.; Parua, N.; Patwa, A.; Pawloski, G.; Penning, B.; Perfilov, M.; Peters, K.; Peters, Y.; Pétroff, P.; Petteni, M.; Piegaia, R.; Piper, J.; Pleier, M. A.; Podesta-Lerma, P. L.M.; Podstavkov, V. M.; Pogorelov, Y.; Pol, M. E.; Polozov, P.; Pope, B. G.; Popov, A. V.; Potter, C.; Prado Da Silva, W. L.; Prosper, H. B.; Protopopescu, S.; Qian, J.; Quadt, A.; Quinn, B.; Rakitine, A.; Rangel, M. S.; Ranjan, K.; Ratoff, P. N.; Renkel, P.; Reucroft, S.; Rich, P.; Rieger, J.; Rijssenbeek, M.; Ripp-Baudot, I.; Rizatdinova, F.; Robinson, S.; Rodrigues, R. F.; Rominsky, M.; Royon, C.; Rubinov, P.; Ruchti, R.; Safronov, G.; Sajot, G.; Sánchez-Hernández, A.; Sanders, M. P.; Santoro, A.; Savage, G.; Sawyer, L.; Scanlon, T.; Schaile, D.; Schamberger, R. D.; Scheglov, Y.; Schellman, H.; Schliephake, T.; Schwanenberger, C.; Schwartzman, A.; Schwienhorst, R.; Sekaric, J.; Severini, H.; Shabalina, E.; Shamim, M.; Shary, V.; Shchukin, A. A.; Shivpuri, R. K.; Siccardi, V.; Simak, V.; Sirotenko, V.; Skubic, P.; Slattery, P.; Smirnov, D.; Snow, J.; Snow, G. R.; Snyder, S.; Söldner-Rembold, S.; Sonnenschein, L.; Sopczak, A.; Sosebee, M.; Soustruznik, K.; Spurlock, B.; Stark, J.; Steele, J.; Stolin, V.; Stoyanova, D. A.; Strandberg, J.; Strandberg, S.; Strang, M. A.; Strauss, M.; Strauss, E.; Ströhmer, R.; Strom, D.; Stutte, L.; Sumowidagdo, S.; Svoisky, P.; Sznajder, A.; Talby, M.; Tamburello, P.; Tanasijczuk, A.; Taylor, W.; Temple, J.; Tiller, B.; Tissandier, F.; Titov, M.; Tokmenin, V. V.; Toole, T.; Torchiani, I.; Trefzger, T.; Tsybychev, D.; Tuchming, B.; Tully, C.; Tuts, P. M.; Unalan, R.; Uvarov, S.; Uvarov, L.; Uzunyan, S.; Vachon, B.; Van Den Berg, P. J.; Van Kooten, R.; Van Leeuwen, W. M.; Varelas, N.; Varnes, E. W.; Vasilyev, I. A.; Vaupel, M.; Verdier, P.; Vertogradov, L. S.; Verzocchi, M.; Villeneuve-Seguier, F.; Vint, P.; Vokac, P.; Von Toerne, E.; Vorwerk, V.; Voutilainen, M.; Wagner, R.; Wahl, H. D.; Wang, L.; Wang, M. H.L.S.; Warchol, J.; Watts, G.; Wayne, M.; Weber, M.; Weber, G.; Welty-Rieger, L.; Wenger, A.; Wermes, N.; Wetstein, M.; White, A.; Wicke, D.; Wilson, G. W.; Wimpenny, S. J.; Wobisch, M.; Wood, D. R.; Wyatt, T. R.; Xie, Y.; Yacoob, S.; Yamada, R.; Yan, M.; Yasuda, T.; Yatsunenko, Y. A.; Yip, K.; Yoo, H. D.; Youn, S. W.; Yu, J.; Zatserklyaniy, A.; Zeitnitz, C.; Zhao, T.; Zhou, B.; Zhu, J.; Zielinski, M.; Zieminska, D.; Zieminski, A.; Zivkovic, L.; Zutshi, V.; Zverev, E. G.

Search for excited electrons in pp̄ collisions at s=1.96TeV

Data

2008-05-12

Autores

Abazov, V. M.

Abbott, B.

Abolins, M.

Acharya, B. S.

Adams, M.

Adams, T.

Aguilo, E.

Ahn, S. H.

Ahsan, M.

Alexeev, G. D.

Resumo

We present the results of a search for the production of an excited state of the electron, e*, in proton-antiproton collisions at s=1.96TeV. The data were collected with the D0 experiment at the Fermilab Tevatron Collider and correspond to an integrated luminosity of approximately 1fb-1. We search for e* in the process pp̄→e*e, with the e* subsequently decaying to an electron plus photon. No excess above the standard model background is observed. Interpreting our data in the context of a model that describes e* production by four-fermion contact interactions and e* decay via electroweak processes, we set 95% C.L. upper limits on the production cross section ranging from 8.9 to 27 fb, depending on the mass of the excited electron. Choosing the scale for contact interactions to be Λ=1TeV, excited electron masses below 756 GeV are excluded at the 95% C.L. © 2008 The American Physical Society.

Como citar

Physical Review D - Particles, Fields, Gravitation and Cosmology, v. 77, n. 9, 2008.

URI

http://hdl.handle.net/11449/225161

Coleções

Artigos - Instituto de Física Teórica (IFT)

Página do item completo

Search for excited electrons in pp̄ collisions at s=1.96TeV

Data

Autores

Título da Revista

ISSN da Revista

Título de Volume

Editor

Resumo

Descrição

Palavras-chave

Como citar

URI

Coleções