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Simple method for detection of the self-heating signature

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Resumo

This paper reports a simple method for detection of the self-heating effect through a special signature, without the need of specific structures or high frequency systems, even in devices presenting positive output conductances. In order to develop this method, simple numerical models were employed, and later verified through experimental observation with pFinFET devices.

Descrição

Palavras-chave

FinFET, Self-heating effect, Semiconductor-On-Insulator

Idioma

Inglês

Como citar

SBMicro 2017 - 32nd Symposium on Microelectronics Technology and Devices: Chip on the Sands, co-located Symposia: 30th SBCCI - Circuits and Systems Design, 2nd INSCIT - Electronic Instrumentation, 7th WCAS - IC Design Cases and 17th SForum - Undergraduate-Student Forum.

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