DC method for self-heating estimation applied to FinFET
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Editor
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Tipo
Trabalho apresentado em evento
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Acesso restrito
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Resumo
This paper reports an extension on the application of the DC method for the estimation of self-heating effects from planar to FinFET devices, verified through theoretical considerations and numerical simulations. In the worst case, a difference of 5.6% was observed on the estimation of the transistors channel temperature when compared to a traditional method.
Descrição
Palavras-chave
Idioma
Inglês
Citação
33rd Symposium on Microelectronics Technology and Devices, SBMicro 2018.
