Electron Emission from Electron-irradiated Dielectrics

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Data

1991-01-01

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Resumo

The paper discusses methods for the measurement of the electron emission currents and the secondary electron yield for electron-irradiated dielectrics. Here the surface of the irradiated dielectric acts as both a collector and a measuring electrode, while a separate collector for recording the emitted electrons is discarded. Secondary yields for a series of dielectrics are represented in the form of a ‘universal’ curve. © 1991 IEEE

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Idioma

Inglês

Como citar

IEEE Transactions on Electrical Insulation, v. 26, n. 1, p. 18-25, 1991.

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