Publicação:
Filmes de SiOx crescidos em substrato de zircônia tetragonal policristalina estabilizada por ítria: influência na durabilidade da adesão a cimentos resinosos

dc.contributor.advisorJúnior, Lafayette Nogueira [UNESP]
dc.contributor.advisorMassi, Marcos [UNESP]
dc.contributor.authorQueiroz, José Renato Cavalcanti de [UNESP]
dc.contributor.institutionUniversidade Estadual Paulista (Unesp)
dc.date.accessioned2014-06-11T19:35:02Z
dc.date.available2014-06-11T19:35:02Z
dc.date.issued2011-08-04
dc.description.abstractEste estudo comparou o efeito de filmes à base de Si depositados pela técnica reactive magnetron sputtering com o uso do jateamento de partículas de alumina e a aplicação de primer na adesão de cimentos resinoso a superfície de zircônia. Blocos de zirconia (N=300) (4,5×4,5)mm foram sinterizados e regularizados com lixas de SiC (1200), sonicamente limpos com água destilada por 10 min e randomicamente divididos em 30 grupos (n=10) de acordo com 3 parâmetros: 1- cimento resinoso (Panavia/Kuraray; Multilink/Ivoclar; RelyX U100/3M); 2- tratamento de superfície (sem tratamentocontrole, Metal/Zirconia Primer, jateamento com partículas + Metal/Zirconia Primer, Filme A + Monobond S; Filme B + Monobond S); 3- termociclagem (TC). Parâmetros de rugosidade da superfície (Ra, Rz, Sdr) foram avaliados por Microscopia de Interferência e Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV). Cilindros de cimento resinoso foram construídos (Ø: 2,4 mm; altura: 2 mm) sobre a superfície de zirconia. O ensaio de resistência adesiva ao cisalhamento foi realizado no momento inicial (24 h) e após a termociclagem (5o- 55oC, 6.000 ciclos) utilizando máquina de ensaio universal (1 mm/min). As superfícies fraturadas foram analisadas por microscopia ótica (30×) e MEV (100× e 2000×) para categorizar o modo de falha. Adicionais blocos de zirconia (15×15)mm confeccionados para análises por Espectroscopia por Retroespalhamento de Rutheford (RBS), e Trabalho de Adesão (WA) após os tratamentos de superfície. Os dados foram estatisticamente analisados por Anova 3-fatores e 11 teste Tukey (5%). Fotomicrografias revelaram microdefeitos nos filmes. Os resultados de Wa mostraram que os filmes melhoraram a molhabilidade da superfície. As análises por RBS mostraram que a concentração elementar dos filmes...pt
dc.description.abstractThis study compared the effect of si-based nanofilm deposition using reactive magnetron sputtering to application of air-abrasion (alumina particles) and zirconia primers on the adhesion of resin cements to zirconia. Zirconia (Nblocks=300) (4.5 mm × 3.5 mm × 4.5 mm) were sintered, ground finished to 1200 SiC paper and cleaned ultrasonically in distilled water for 10 min. The blocks were randomly divided into 30 groups (n=10) according to 3 testing parameters: 1- Resin Cements (Panavia/Kuraray; Multilink/Ivoclar; RelyX U100/3M); 2- Surface conditioning (no conditioning-control, Metal/Zirconia Primer, air-abrasion + Metal/Zirconia Primer, Sibased film A + Monobond S; Si-based film B + Monobond S); 3- Aging (with and without). Surface roughness parameters (Ra, Rz, Sdr) before and after surface conditioning were evaluated using interference microscopy (IM). Rutheford Backscattering Spectroscopy (RBS), Scanning Electron Microscopy (SEM), and Work of Adhesion (WA) analyses were performed after surface treatments. Resin cements were incrementally built up (Ø: 2.4 mm; height: 4 mm) on the zirconia surfaces. Bonded specimens were then thermocycled (5o-55oC, 6,000 cycles). Shear bond strength (SBS) was performed using the Universal Testing Machine (1 mm/min). After fracture, the surfaces were analyzed using an optical microscopy (30 ×), SEM (100 × and 2000 ×) to categorize the failure modes. The data were statistically evaluated using 3-way ANOVA and Tukey's test (5%). Scanning Electron Microscopy showed micro defects on Si-based nanofilms surface. The result to Wa showed that surface coated with Si-based nanofilms improved wetability when compared to the other surface treatments. RBS analysis showed that was produced films with different chemical elemental concentration. While air-abraded... (Complete abstract click electronic access below)en
dc.description.sponsorshipCoordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior (CAPES)
dc.format.extent129 f.
dc.identifier.aleph000683374
dc.identifier.capes33004145070P8
dc.identifier.citationQUEIROZ, José Renato Cavalcanti de. Filmes de SiOx crescidos em substrato de zircônia tetragonal policristalina estabilizada por ítria: influência na durabilidade da adesão a cimentos resinosos. 2011. 129 f. Tese (doutorado) - Universidade Estadual Paulista, Faculdade de Odontologia de São José dos Campos, 2011.
dc.identifier.filequeiroz_jrc_dr_sjc.pdf
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11449/105537
dc.language.isopor
dc.publisherUniversidade Estadual Paulista (Unesp)
dc.rights.accessRightsAcesso aberto
dc.sourceAleph
dc.subjectCimentos resinosos - Adesãopt
dc.titleFilmes de SiOx crescidos em substrato de zircônia tetragonal policristalina estabilizada por ítria: influência na durabilidade da adesão a cimentos resinosospt
dc.typeTese de doutorado
dspace.entity.typePublication
unesp.campusUniversidade Estadual Paulista (UNESP), Instituto de Ciência e Tecnologia, São José dos Campospt
unesp.graduateProgramOdontologia Restauradora - ICTpt
unesp.knowledgeAreaPrótese dentáriapt
unesp.researchAreaAvaliação clínica e laboratorial de materiais e técnicas em prótesept

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