Publicação: Análise estrutural e morfológica de filmes finos de óxidos avançados
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Data
Autores
Orientador
Silva, José Humberto Dias da 
Coorientador
Pós-graduação
Curso de graduação
Bauru - FC - Física
Título da Revista
ISSN da Revista
Título de Volume
Editor
Universidade Estadual Paulista (Unesp)
Tipo
Trabalho de conclusão de curso
Direito de acesso
Acesso aberto
Resumo
Resumo (português)
O presente trabalho destaca a significativa importância da caracterização estrutural de materiais por meio de técnicas de difração de raios X. Como calibração da técnica foi realizado medidas de óxido de ítria (Y2O3) e como exemplo de utilização, foi aplicado o método para a análise estrutural de filmes de dióxido de titânio (TiO2). A caracterização precisa de materiais é crucial para compreender e otimizar suas propriedades, desempenhando um papel fundamental em diversas áreas, desde desenvolvimento de novos materiais até o controle de qualidade em processos industriais. No contexto específico deste estudo, o foco recai sobre o uso de difração de raios X, uma técnica valiosa para investigar a estrutura cristalina de materiais. O trabalho aborda também uma etapa de calibração do equipamento de difração de raios X, realizada para verificar a confiabilidade dos dados obtidos durante as análises. Esta fase mostrou que os dados de posição e largura de picos do difratômetro necessitam de calibração para garantir resultados precisos e interpretações corretas das informações estruturais. Com ênfase na análise de Williamson-Hall, a pesquisa concentrou-se na extração de características estruturais específicas do composto TiO2. Esse composto, o dióxido de titânio, é amplamente utilizado em diversas aplicações, tornando a compreensão de suas propriedades estruturais de suma importância para a melhoria contínua de sua utilização em diferentes campos científicos e industriais.
Resumo (inglês)
The present work highlights the significant importance of structural characterization of materials through X-ray diffraction techniques. As a calibration of the technique, measurements of yttria oxide (Y2O3) were carried out and as an example of use, the method for structural analysis was applied of titanium dioxide (TiO2) films. The accurate characterization of materials is crucial to understanding and optimizing their properties, playing a fundamental role in several areas, from the development of new materials to quality control in industrial processes. In the specific context of this study, the focus is on the use of X-ray diffraction, a valuable technique for investigating the crystalline structure of materials. The work also addresses a calibration stage of the X-ray diffraction equipment, carried out to verify the reliability of the data obtained during the analyses. This phase is essential to ensure accurate results and correct interpretations of structural information. With an emphasis on Williamson-Hall analysis, the research focused on extracting specific structural features of the TiO2 compound. This compound, titanium dioxide, is widely used in various applications, making understanding its structural properties extremely important for the continuous improvement of its use in different scientific and industrial fields.
Descrição
Palavras-chave
Williamson-Hall (W-H), Difração de raios X, Y2O3, TiO2, X-ray diffraction
Idioma
Português
Como citar
NOÉ, Gustavo dos Santos. Análise estrutural e morfológica de filmes finos de óxidos avançados. 2023. Trabalho de Conclusão de Curso (bacharelado em Física dos Materiais) - Faculdade de Ciências, Universidade Estadual Paulista (Unesp), Bauru, 2023.
