Simple method for detection of the self-heating signature
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Data
2017-01-01
Orientador
Coorientador
Pós-graduação
Curso de graduação
Título da Revista
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Editor
Ieee
Tipo
Trabalho apresentado em evento
Direito de acesso
Acesso aberto
Resumo
This paper reports a simple method for detection of the self-heating effect through a special signature, without the need of specific structures or high frequency systems, even in devices presenting positive output conductances. In order to develop this method, simple numerical models were employed, and later verified through experimental observation with pFinFET devices.
Descrição
Palavras-chave
Idioma
Inglês
Como citar
2017 32nd Symposium On Microelectronics Technology And Devices (sbmicro): Chip On The Sands. New York: Ieee, 4 p., 2017.